프로파일 미터는 표면의 프로파일을 측정하여 거칠기를 정량화하는 데 사용되는 측정 기기입니다. 단계, 곡률, 표면 지형의 평탄도와 같은 중요한 치수를 계산합니다. 프로파일 미터의 역사적 개념은 표면을 측정하는 축음기와 같은 장치입니다.

다이아몬드 스타일러스는 샘플과 수직으로 이동 한 다음 지정된 거리와 지정된 접촉력을 위해 샘플을 가로 질러 측면으로 이동합니다. 프로파일 러는 위치의 함수로서 수직 스타일러스 변위의 작은 표면 변화를 측정 할 수 있습니다. 전형적인 프로파일 러는 s를 측정 할 수 있습니다